透射電鏡(TEM)實驗服務

使用說明書

僅供體外研究使用，不用于臨床診斷!

第1版（2016年04月修訂）

透射電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope,簡稱TEM),可以看到在光學顯微鏡下無法看清的小于0.2um的細微結構，這些結構稱為亞顯微結構或超微結構。要想看清這些結構，就必須選擇波長更短的光源，以提高顯微鏡的分辨率，目前TEM的分辨力可達0.2nm。

透射電子顯微鏡在材料科學、生物學上應用較多。由于電子易散射或被物體吸收故穿透力低,樣品的密度、厚度等都會影響到最后的成像質量，必須制備更薄的超薄切片，通常為50-100nm,所以透射電鏡觀察時的樣品需要處理得很薄。

服務內(nèi)容

可應用于細胞樣本、微生物樣本以及組織塊樣本等結構形態(tài)的觀察

服務流程

1.將需檢測樣本運輸?shù)轿夜净蛘哂晌覀児咎峁颖荆?/p>

2.根據(jù)客戶要求對需檢測樣本進行透射電子顯微鏡實驗，提供客戶影像圖片。

設備介紹

JEM-1400 120kV透射電子顯微鏡

客戶提供的材料

1、固定好的檢測樣本或新鮮組織樣本/2、確定取材部位，盡量減小牽拉、挫傷與擠壓等機械損傷，組織體積一般不超過1mm×1mm×1mm ，迅速投入電鏡固定液4℃固定2-4h。